QNIX4200/4500 涂層測(cè)厚儀

德國(guó) QNIX4200/4500 測(cè)厚儀
是利用霍爾原理而設(shè)計(jì)的探頭與主機(jī)一體化金屬涂層測(cè)厚儀
只需較零，無(wú)需校準(zhǔn)
零位穩(wěn)定
4200Fe探頭，4500Fe/NFe探頭
獨(dú)特的直流采樣技術(shù)

技術(shù)參數(shù)：
磁性基體：Fe探頭（4200/4500） 非磁性基體 NFe探頭（4500）
測(cè)量范圍：Fe:0-3000um/NFe:0-2000um
精度：0－50μm：≤±1μm，
50－1000μm：≤±1.5%，
1000－2000μm：≤±2%，
1000－3000μm≤±3%
*小接觸面：10mm×10mm
*小曲率：凸、凹半徑：3mm/25mm
*小基體厚度：Fe：0.2mm，NFe：0.05mm
溫度補(bǔ)償范圍：0-60度
顯示：LCD液晶
探頭：紅寶石固定式
電源：5號(hào)電池2節(jié)
尺 寸：110×60×27mm
重 量：110g